引用本文:钱斌;郭国强;邱磊;王福伟;金露;伏燕军.基于亚像素边缘检测的高精度圆孔参数测量方法研究[J].上海航天,2017,34(6):126-132.
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基于亚像素边缘检测的高精度圆孔参数测量方法研究
钱斌;郭国强;邱磊;王福伟;金露;伏燕军
作者单位
钱斌;郭国强;邱磊;王福伟;金露;伏燕军  
摘要:
为改善用机器视觉对圆孔参数测量结果,减小误差,在利用圆形标定板标定像素当量的基础上,对一种基于亚像素边缘检测的高精度圆孔参数测量方法进行了研究。用改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法对边缘点作进一步的细化和筛选,用7×7模板替代原5×5模板,设计新阈值判断标准检测亚像素边缘,再对检测到的边缘点偏离像素进行抑制以获得更精确的图像边缘点;用最小二乘法进行圆形拟合获得圆形参数。给出了改进算法的基本步骤。用实验讨论了在自然光条件下,相机曝光亮度,以及相机与被测物体距离对测量结果的影响。结果表明:改进的方法对环境适应性强,易实现,曝光亮度30~50时测量精度较好;相机与物体距离50~60cm时,测量精度可达0.02mm。该法在高精度的工业检测中有广泛的应用前景。

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